“ - Distribution granulométrique mesurée avec une résolution très élevée
- Analyses rapides pour optimiser les contrôles en laboratoire
- Détection fiable des agglomérats et des populations secondaires ”
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Le granulomètre à disque centrifuge haute performance DC24000-UHR intègre la technologie de pointe de sédimentation centrifuge différentielle (DCS). Ce procédé physique classe rigoureusement les composants en suspension selon leur vitesse de sédimentation sous l'action d'une force centrifuge régulée. Conçu pour surpasser les limites des technologies classiques de diffraction laser, ce système s'impose comme l'outil métrologique ultime pour analyser avec précision des nanoparticules de toutes natures sur une plage dynamique de 3 nm à 75 µm.
Cet instrument de caractérisation s'intègre parfaitement au sein des laboratoires de contrôle qualité exigeants et des lignes de production de haute technologie. Il maximise la productivité industrielle en fournissant des analyses extrêmement rapides, généralement complétées en quelques minutes seulement. Son architecture logicielle dédiée automatise entièrement l’acquisition des données, minimisant de fait les interventions humaines et éliminant tout risque d'erreur opérationnelle lors des mesures de routine.
Grâce à sa haute répétabilité assurée par un étalonnage sur standards physiques certifiés, le granulomètre isole avec une exactitude inégalée les populations particulaires ultra-minoritaires et les agglomérats complexes. Il est parfaitement adapté à l'étude d'échantillons variés tels que les émulsions, suspensions colloïdales, polymères ou protéines, garantissant un contrôle optimal des processus de synthèse complexes, qu'il s'agisse de distributions monomodales ou de systèmes multimodaux hautement hétérogènes.
Modèle : DC24000-UHRMarque : CPS InstrumentTechnologie : sédimentation centrifuge différentielle (DCS)Plage de mesure : de 3 nm à 75 µm (selon le modèle et la densité des particules)Résolution : très haute résolution granulométriqueTemps d'analyse : quelques minutes selon l'échantillon
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