Ellipsomètre Spectroscopique Woollam Alpha-SE™

“ L'ellipsomètre Woollam Alpha 2.0 est un instrument compact et simple d'usage. L'Alpha-SE™ combine la méthode RCE (Rotating Compensator) avec une acquisition rapide par détection CCD. Cela permet des m ”

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L'ellipsomètre spectroscopique Woollam Alpha 2.0™ est la solution parfaite pour la caractérisation de couches minces : mesures d'épaisseur, mesures d'indice de réfraction de couches minces. Il s'agit d’un instrument presse-bouton particulièrement simple à utiliser : placement de l’échantillon, démarrage de la mesure et obtention de l’épaisseur en 3 secondes.

Facile à utiliser

Instrument presse-bouton fourni avec un logiciel d’analyse doté de modèles intégrés qui font le travail pour l’utilisateur.

Puissant

L’Ellipsométrie Spectroscopique permet d’obtenir simultanément l’épaisseur et l’indice de couches minces avec une précision et certitude inégalé

Flexible

Mesure tout type de matériau - diélectriques, semi-conducteurs, organiques, etc.

Rapide

Acquisition du spectre complet en quelques secondes

Paramètres mesurables :

Epaisseur de couche
Indice complexe du matériau
Rugosité d'interface
Coefficients de la matrice de Mueller
Dépolarisation des couches étudiées

Caractéristiques

Usage ex-situ (goniomètre 4 positions fixes) Ellipsomètre à compensateur tournant (RCE) Spectral Range 380 nm to 900 nm, 180 wavelengths System Overview Patented rotating compensator technology with CCD detection Angle of Incidence 65°, 70°, 75° or 90° (straight-through) Data Acquisition Rate : 3 sec. (Fast mode); 10 sec. (Standard mode); 30 sec. (High-precision mode) Beam Diameter : Collimated: ~3 mm; Focused: ~0.3 mm Weight 18 kilograms excluding computer

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