Ellipsomètre Spectroscopique Woollam Alpha-SE™

L'ellipsomètre spectroscopique Woollam Alpha-SE™ est la solution parfaite pour la caractérisation de couches minces : mesures d'épaisseur, mesures d'indice de réfraction de couches minces. Il s'agit d’un instrument presse-bouton particulièrement simple à utiliser : placement de l’échantillon, démarrage de la mesure et obtention de l’épaisseur en 3 secondes.

Facile à utiliser 
Instrument presse-bouton fourni avec un logiciel d’analyse doté de modèles intégrés qui font le travail pour l’utilisateur.


Puissant
L’Ellipsométrie Spectroscopique permet d’obtenir simultanément l’épaisseur et l’indice de couches minces avec une précision et certitude inégalé


Flexible
Mesure tout type de matériau - diélectriques, semi-conducteurs, organiques, etc.


Rapide 
Acquisition du spectre complet en quelques secondes

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Paramètres mesurables :

• Epaisseur de couche
• Indice complexe du matériau
• Rugosité d'interface
• Coefficients de la matrice de Mueller
• Dépolarisation des couches étudiées

Applications : 

• For Transparent Film

 With fast measurement speed and push-button operation, the alpha-SE® is ideal for qualifying thin films. Single-layer dielectrics on silicon or glass substrates can be measured in seconds. Log results for easy-to-use comparisons in both graphical and tabular formats.

• Self-Assembled Monolayers

Phase information of a spectroscopic ellipsometry measurement is highly sensitive to very thin films (<10 nm). For example, self-assembled monolayers can be measured and quickly compared using the alpha-SE.

• For Absorbing Films

Advanced models allow quick and efficient fits for a wide variety of absorbing materials you may encounter.

• Coatings on Glass

Patented technology allows accurate measurements on any substrate: metal, semiconductor, or glass. For transparent substrates, the alpha-SE® simultaneously measures depolarization to correct for light returning from the backside of the substrate. This unwanted light can confuse other ellipsometers, but the alpha-SE ensures accurate thickness and optical constants.

• Photovoltaics

Film thickness and optical properties are critical to performance of solar devices. Ellipsometry is used for development and monitoring of all PV materials: a-Si, µc-Si, poly-Si, AR Coatings (SiNx, AlNx…), TCO Films (ITO, ZnOx, doped SnO2, AZO), CdS, CdTe, CIGS, organic PV materials, and dye sensitized films.

• Display

Measurements of a-Si, poly-Si, microcrystalline-Si, OLED layers, color filters, ITO, MgO, polyimide, and liquid crystals are beneficial during diaplay R&D and production.

Caractéristiques : 

• Usage ex-situ (goniomètre 4 positions fixes)
• Ellipsomètre à compensateur tournant (RCE)
• Conception compacte, robuste et précise
• Tarif avantageux
• Automatisation en Z