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Appareil pour les couches minces - Time Domain Thermoréflectance (TDTR) TF-LFA LaserFlash

Conductimètres

“ LaserFlash pour les mesures de couches minces (de 80 nm à 20 pm) - conductivité thermique / diffusivité thermique ”
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L'appareil LaserFlash TF-LFA de Linseis Analyse Thermique est votre solution de choix pour la mesure de la diffusivité et de la conductivité thermique des couches minces. Exploitant la précision de deux méthodes de mesure, cet appareil est adapté à un large éventail d'applications industrielles.

1. Flexibilité avec deux méthodes de mesure:
Le LaserFlash TF-LFA se distingue par son utilisation de deux méthodes de mesure. D'une part, il utilise la Méthode Laser Flash haute vitesse (RF) qui est particulièrement adaptée à l'analyse de matériaux en vrac. D'autre part, la Méthode de thermoréflectivité du domaine temporel (FF) est idéale pour les films minces. Cette dualité de mesures permet une large gamme d'applications et une grande précision d'analyse.

2. Plage de température étendue:
L'appareil offre une plage de température de fonctionnement étendue de -100°C à 500°C. Cette large couverture en température permet l'étude de différents types de matériaux, augmentant ainsi l'éventail d'applications possibles. Vous pouvez ainsi effectuer vos analyses thermiques sur une multitude de matériaux en toute simplicité.

3. Mesure précise et adaptable:
Le LaserFlash TF-LFA offre une plage de mesure impressionnante de 0,01 mm²/s à 1000 pour la diffusivité thermique. Cette précision permet non seulement d'obtenir des résultats fiables, mais aussi d'adapter votre mesure à vos besoins spécifiques. Vous pouvez ainsi accomplir vos tâches avec précision tout en limitant les erreurs.

4. Technologie de pointe:
Doté d'un laser de pulse Nd-YAG et d'une sonde laser HeNe, l'appareil garantit une performance optimale. Il possède une énergie d'impulsion maximale de 90mJ/pulse, contrôlée par le logiciel. Ces technologies contribuent non seulement à accroître la précision des mesures, mais assurent également le haut rendement de l'appareil.

En somme, le LaserFlash TF-LFA de Linseis Analyse Thermique offre des performances élevées dans la mesure de la diffusivité et de la conductivité thermique, rendant l'analyse des films minces plus fiable et précise. Que ce soit par sa flexibilité, sa large plage de température, sa précision ou sa technologie de pointe, cet appareil est un investissement sûr pour toutes vos applications industrielles.

Mesure de la diffusivité et de la conductivité thermique des couches minces Épaisseur des films analysés : 80 nm à 20 µm Méthodes de mesure : Laser Flash haute vitesse (RF) et thermoréflectivité du domaine temporel (FF) Plage de température : -100°C à 500°C Plage de mesure : 0,01 mm²/s à 1000 Énergie d'impulsion maximale : 90 mJ/pulse (contrôlé par logiciel) Laser de pulse : laser Nd-YAG Sonde laser : laser HeNe (632 nm), 2 mW

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