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Nano-scratch testeur : NST3 ANTON PAAR FRANCE

Nano-scratch testeur : NST3

Instruments de laboratoire

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“ Accès à un panorama entièrement synchronisé pour une analyse n’importe quand et n’importe où Cette fonction unique synchronise automatiquement l’image panoramique complète de la rayure avec une mise au point parfaite, avec les données de rayure provenant de l’ensemble des capteurs. Vous pouvez donc effectuer à tout moment une analyse des charges critiques à partir de l’observation du panorama et des enregistrements de signaux. Anton Paar est le détenteur exclusif de la technique du panorama synchronisé (brevet américain 8261600 et brevet européen EP 2065695). Temps de réponse rapide aux petites forces appliquées Le nano-scratch testeur NST³ incorpore un cantilever double lames pour l'application de la charge couplé à un actionneur piézoélectrique pour fournir une réponse ultra-rapide à la charge appliquée. Ce concept corrige également le résultat des déviations provoquées par tout événement se produisant pendant la rayure (par exemple l'apparition de fissures et de défaillances, de défauts ou d'échantillons non plats). Sans compromis : appliquez la force précise que vous souhaitez La boucle d’asservissement électronique de la force normale permet des essais de nano-rayure encore plus précis. Le NST³ inclut un capteur réel pour la mesure de force qui renvoie directement à l'actionneur de force normale. Cela garantit des essais de rayure reproductibles, même si vous examinez des géométries de surface plus complexes telles que des échantillons non parallèles, rugueux ou courbés. Mesure de la profondeur de pénétration résiduelle pour l’étude de recouvrance élastique Le nano-scratch testeur NST³ est doté d’un capteur de déplacement réel pour contrôler le mouvement vertical de l’indenteur. Grâce à ce capteur, la méthode unique de pré-scan et post-scan vous permet d’obtenir la profondeur réelle : les propriétés élastiques, plastiques et viscoélastiques des matériaux peuvent donc être évaluées (brevet : US 6520004). Cette méthode fait appel à un pré-scan pour enregistrer le profil de surface (forme, ondulation et rugosité) de l’échantillon avant d’effectuer l’essai de résistance à la rayure. Le NST³ corrige la profondeur de l’indenteur au moment de la rayure (profondeur de pénétration) et après la rayure (profondeur résiduelle) à l’aide du profil de surface. Mode multi-post-scan pour mesurer le comportement visqueux suite à une rayure Après une rayure, il est possible de définir plusieurs mesures post-scan dans le temps pour mesurer l’évolution de la profondeur résiduelle. Cette nouvelle analyse vous permettra de mieux comprendre les déformations supportées par votre échantillon et les temps de relaxation ”
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Le nano-scratch testeur le plus précis sur le marché

Le nano-scratch testeur NST³ est particulièrement adapté pour caractériser la résistance à la rayure pratique et la perte d’adhérence des films et revêtements minces d'épaisseur inférieure à 1000 nm. Le NST³ peut servir à analyser des revêtements organiques et inorganiques ainsi que des revêtements mous et durs. La conception unique de la tête de mesure nano-scratch comprend deux capteurs pour les mesures de force et de profondeur couplés à un actionneur piézoélectrique de pointe. Ces caractéristiques assurent un temps de réponse rapide (de quelques millisecondes), une grande précision et une excellente flexibilité pour tous les types de mesure de rayure.

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