Microscope FIB-SEM | ZEISS Crossbeam

Microscope FIB-SEM | ZEISS Crossbeam - ZEISS

Microscope FIB-SEM | ZEISS Crossbeam - Microscopes et loupes de laboratoire

Microscope FIB-SEM | ZEISS Crossbeam - produit présenté par ZEISS

Microscope FIB-SEM | ZEISS Crossbeam

Microscopes et loupes de laboratoire

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“ - Manipulation des échantillons avec précision et rapidité - Gain de temps - Accès rapidement aux zones d'intérêt profondément enfouies ”

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Le microscope FIB-SEM ZEISS Crossbeam réunit la performance d'un microscope électronique à balayage à émission de champ haute résolution et la puissance d'un faisceau d'ions focalisé nouvelle génération. Doté d'une plateforme modulaire, il s'adapte à l'évolution de vos besoins, notamment grâce à l'option LaserFIB pour une ablation plus rapide et précise des matériaux. Conçu pour optimiser l'imagerie, l'analyse et l'usinage, le Crossbeam révolutionne vos applications FIB.

1. La manipulation précise et rapide des échantillons permet de gagner un temps précieux lors des études approfondies, ce qui est crucial dans le milieu industriel.

2. Le système LaserFIB du Crossbeam permet d'accéder rapidement à des zones d'intérêt profondément enfouies, tel que des couches internes complexes, améliorant considérablement l'efficacité des travaux d'analyse in situ.

3. Grâce à la colonne FIB Ion-sculptor, les dommages aux échantillons sont minimisés, maximisant ainsi la qualité des informations extraites et réduisant le temps nécessaire à chaque expérience.

4. L'optique électronique Gemini offre des images MEB haute résolution, cruciales pour une analyse précise et complète des échantillons, garantissant des résultats fiables pour les applications industrielles les plus exigeantes.

Le ZEISS Crossbeam, à la fois modulaire et innovant, est un outil indispensable pour les chercheurs et techniciens en quête de précision dans leurs analyses. Ses multiples fonctionnalités permettent de mener à bien des études complexes tout en optimisant le temps de travail. Pour équiper vos laboratoires d'une solution performante et adaptée à vos défis, n'hésitez pas à demander un devis dès aujourd'hui.

Caractéristiques

Flux de travail : amélioration in situ avec le laser Crossbeam Variantes disponibles : Crossbeam 350 pour pression variable, Crossbeam 550 pour caractérisations exigeantes Optique électronique : haute résolution avec Gemini Usinage FIB : minimise les dommages pour une qualité d'échantillons maximisée Préparation d'échantillons TEM : échantillons ultra-minces avec dommages réduits grâce à FIB Ion-sculptor Imagerie et analyse : combine FE-SEM haute résolution et FIB nouvelle génération Plate-forme modulaire : extensible avec LaserFIB pour ablation massive de matériaux Accélération des applications FIB : imagerie, usinage, analyses 3D

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