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Microscope à force atomique : Série Tosca

Microscopes et loupes de laboratoire

“ Profitez de nos compétences et de notre support: Alignement laser automatique Une étape très importante mais aussi très complexe lors de mesures AFM est l'alignement laser. Ce processus peut être assez laborieux, en particulier pour les utilisateurs novices. C'est pourquoi, Tosca™ 400 fournit une fonction d'alignement laser entièrement automatique : Une fois le cantilever monté sur le corps de l'actionneur et ce dernier installé sur la tête de l'AFM, l'instrument effectue automatiquement l'alignement après seulement deux clics dans le logiciel de contrôle. Obtenez une vue complète : Une large zone de balayage multi-directionnelle combinée à une extrême précision La plage de balayage X-Y de 100 μm couvre une vaste gamme d'applications. La zone de balayage X-Y peut être ajustée en toute simplicité grâce à la fonction de navigation cliquer-déplacer du logiciel de contrôle Tosca™. Le niveau de bruit sur le positionnement X-Y est inférieur à 0,3 nm. Le positionnement et le balayage précis de votre échantillon sont garantis. Avec une plage Z de 15 μm, il est possible d'acquérir des topographies de surface dans une zone X-Y vaste et d'effectuer une analyse de rugosité sur une large échelle en Z . Le niveau de bruit sur la position en Z est inférieur à 30 pm. Cette valeur très faible procure une extrême précision à l'analyse de la rugosité. Une avancée majeure : La procédure d'engagement la plus simple sur le marché de l'AFM La procédure d'engagement met la surface de l'échantillon en contact avec le cantilever. C'est l'une des procédures les plus complexes lors de l'exploitation de l'AFM. Tosca™ 400 contourne ce problème en implémentant une caméra d’observation latérale. Cette caméra vous permet de suivre la position exacte du cantilever par rapport à la surface et d'approcher le cantilever de celle-ci. Vous pouvez ensuite démarrer la procédure d’engagement automatique dans le logiciel et en quelques secondes le cantilever entre en contact avec la surface de l'échantillon et est prêt au balayage. Procédez selon votre méthode : Compatible avec tout type de cantilever Il existe de nombreux types de cantilevers et de marques en vente sur le marché – Tosca™ 400 vous permet d'utiliser le cantilever le plus approprié à votre application. Il vous suffit de placer le corps de l'actionneur et le cantilever dans l'outil de remplacement du cantilever, de le réintroduire et de placer le cantilever de votre choix dans la position optimale pour la mesure suivante. Plus besoin d'utiliser des pinces pour positionner le minuscule cantilever – vous disposez à présent du parfait outil pour un remplacement rapide et sécurisé du cantilever. Laisser Tosca™ 400 vous guider : Une navigation de l'échantillon de pointe Après avoir chargé et initialisé Tosca™ 400, vous pouvez démarrer une image de la table d'échantillon entière. En un simple clic de la souris sur la position souhaitée à l'intérieur de l'image, l'instrument parcourt l'échantillon jusqu'à la zone de choix pour la mesure suivante. La navigation est également disponible en visualisation micro. Le déclenchement de la navigation est entièrement automatique après avoir cliqué dans l'image du microscope vidéo intégré. De cette manière, vous pouvez naviguer en toute simplicité même vers des éléments de petite taille. ”
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Réduisez votre temps d’analyse grâce à l'AFM Tosca

La série Tosca associe de manière unique technologie de pointe et fonctionnement rapide, faisant de cet AFM un outil d'analyse nanotechnologique parfait tant pour les scientifiques que pour les utilisateurs industriels.
 
Il existe deux modèles au choix : Le Tosca 400, AFM haut de gamme ou le Tosca 200, un AFM destiné aux échantillons de taille moyenne et aux budgets limités. Les deux offrent le même niveau de performance, de souplesse et de qualité.
 
Chaque Tosca est livré avec: une garantie de trois ans, trois vouchers pour la formation des utilisateurs et des vouchers pour des rapports de mesure détaillés sur un maximum de dix échantillons de votre choix.

Tosca 200 : 
  • Top-level AFM for entry-level budgets
  • Le plus grand porte-échantillons du segment de prix (500 mm entièrement adressables) 
  • Temps de mesure le plus rapide sur le marché (seulement 3 min) 
  • Taille de balayage de 15µm dans la direction Z et 90 µm x 90 µm dans les directions X et Y
  • Echange de cantilever en moins de 10 secondes
  • Tous les modes sont possibles sur le même spot d'échantillon sans avoir à changer de tête
Tosca 400 : 
  • Le plus grand porte-échantillons du segment de prix (jusqu'à 200 mm) pour les wafers)
  • Le niveau d'automatisation matérielle et logicielle le plus élevé pour votre AFM
  • Temps de mesure le plus rapide sur le marché (seulement 3 min)
  • Echange de cantilever en moins de 10 secondes
  • Tous les modes sont possibles sur le même spot d'échantillon sans avir à changer de tête

Mesure la plus rapide Plus grand porte-échantillons Analyse de surfaces à l’échelle nanométrique
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