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Mesure d'épaisseur : systèmes de mesure de couches minces : F-20 SCIENTEC

Mesure d'épaisseur : systèmes de mesure de couches minces : F-20

Mesures d’épaisseur

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L’épaisseur et les constantes optiques (n et k) sont facilement et rapidement mesurées grâce au système de spectrométrie avancée F-20. L’analyse spectrale de la réflectance par le dessus ou le dessous de la couche mince fournit l’épaisseur, l’index de réfraction et le coefficient d’extinction en moins d’une seconde. Le système informatique s’installe en quelques minutes et le logiciel est très simple à utiliser. 
Le F-20 inclut tout le nécessaire pour effectuer les mesures : un spectromètre, une source de lumière, une fibre optique, un plateau pour échantillon et un logiciel de traitement (compatible Windows™) à installer sur votre ordinateur.

  • Disponible en 5 configurations avec longueurs d’ondes différentes
    –VIS, UV, NIR, EXR, XT
  • Disponible en configurations optiques multiples
    –Simple plateau, pointes de contact, couplage sur microscope, suivi de dépôt en temps réel

Filmetrics met au point des produits pouvant être utilisés par des non-experts pour obtenir des résultats fiables en un minimum de manipulation. Facile à utiliser : puissant, GUI simple Plusieurs caractéristiques importantes développées après plusieurs années d’expérience (comme des assemblements de lentilles multiples, des plateaux, DDE, FFT…) Capable de résoudre la plupart des problèmes rencontrés par des produits courants. Algorithmes d’analyse précis et performants

FABRICATION DE SEMICONDUCTEURS Photorésistant / Oxydes / Nitrure REVETEMENTS OPTIQUES Couches minces : dures, anti-réflexion, filtres, etc ... ECRANS A CRISTAUX LIQUIDES Vides cellulaires / Polyimide / ITO BIOMEDICAL Parylène / Membrane / Epaisseur / Nitrocellulose

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