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Mesure d'épaisseur : systèmes de mesure de couches minces : F-20

Mesures d’épaisseur

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Découvrez le F-20, notre système de spectrométrie de pointe conçu par le fournisseur SCIENTEC. Cet équipement innovant permet de mesurer rapidement et précisément l'épaisseur et les constantes optiques des couches minces, offrant des résultats en moins d'une seconde.

1. Mesure simplifiée et efficace : Le F-20 a été conçu pour faciliter davantage l'évaluation de l'épaisseur et des constantes optiques de vos couches minces. En analysant le spectre de réflectance, que ce soit du dessus ou du dessous de la couche, ce système avancé fournit rapidement l'épaisseur ainsi que les constantes optiques.

2. Obtention rapide de résultats : Grâce à sa technologie de pointe, le F-20 offre des résultats en moins d'une seconde. Cela signifie que vous pouvez obtenir l'épaisseur, l'indice de réfraction et le coefficient d'extinction de la couche en un temps record pour optimiser la productivité de votre travail.

3. Simplicité d'utilisation : Le système informatique du F-20 est facile à installer et le logiciel fourni est convivial. Même les non-experts peuvent l'utiliser pour obtenir des résultats fiables, grâce à son interface utilisateur simple mais puissante.

4. Configurations multiples disponibles: Le F-20 est offert en 5 configurations différentes avec des longueurs d'ondes variées. De plus, plusieurs configurations optiques sont disponibles. Cela vous donne la flexibilité de choisir le système qui correspond le mieux à vos besoins spécifiques.

S'appuyant sur des algorithmes d'analyse précis et performants, le F-20 est capable de résoudre la majorité des problèmes rencontrés par des produits courants. En outre, bénéficiant de plusieurs années d'expérience, ce système intègre de nombreuses caractéristiques importantes comme des assemblements de lentilles multiples, des plateaux, DDE, FFT…

Dans la boîte, vous trouverez tout ce dont vous avez besoin pour commencer à utiliser le F-20, y compris un spectromètre, une source de lumière, une fibre optique, un plateau pour échantillon, et un logiciel de traitement compatible avec Windows. Ainsi, vous pouvez commencer vos mesures dès que vous recevez votre système. Le F-20 de SCIENTEC ne se contente pas de mesurer l'épaisseur, il révolutionne le processus !

Mesure rapide et facile de l'épaisseur des couches minces Résultats en moins d'une seconde Analyse spectrale de la réflectance par le dessus ou le dessous Système informatique facile à installer Logiciel simple à utiliser, compatible Windows Disponible en 5 configurations de longueurs d'ondes Disponible en configurations optiques multiples Conçu pour des résultats fiables par des non-experts

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