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Ultra Nanoindentation Testeur (UNHT) ANTON PAAR FRANCE

Ultra Nanoindentation Testeur (UNHT)

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L'UNHT est un nanoindenteur ultra-haute résolution permettant d’examiner les propriétés mécaniques d'un matériau à l'échelle nanométrique. L'UNHT annihile presque entièrement l'effet de la dérive thermique grâce à son système breveté de référence active de surface. Il est donc parfaitement adapté aux mesures longue durée sur tous types de matériaux, y compris les polymères, les couches très fines et les tissus mous.

Design sophistiqué intégrant des capteurs de très haute résolution
  • Référence de surface active (design breveté)
    La référence est amovible et peut être de différentes formes (bille, broche, etc). La référence dispose de son propre actuateur piézo et capteur de force, et permet donc d’appliquer une très petite force ajustable (boucle d’asservissement) sur l'échantillon.
  • Dérive thermique quasi nulle
    - La structure de la tête intègre un verre ZeroDur® et le système électronique présente un taux de dérive à ≈ 1 ppm/°C
    - La raideur de bâti est très élevée grâce aux choix des matériaux constituant la plateforme mais également grâce au principe de référence de surface breveté.
  • Deux capteurs de force et de profondeur indépendants : capteurs capacitifs ultra-haute résolution pour les modes « Depth control » et « Load Control ».
  • Ultra-haute résolution et niveau de bruit très faible.
    Résolution en profondeur : 0,001 nm, niveau de bruit ≈ 0,1 nm
    Résolution en force : 0,01 μN, niveau de bruit ≈ 0,5 µN
  • Synchronisation parfaite en position grâce à un microscope optique haute qualité et/ou un microscope AFM (Atomic Force Microscope) en option. 
    La combinaison de la tête UNHT, du microscope optique et de l'objectif AFM offre une flexibilité et une facilité d'utilisation attractives, ainsi qu'une fonction d'imagerie 3D de grande précision à l'échelle nanométrique.
  • Conforme aux normes ISO 14577 et ASTM E2546
Options :
  • Chambre climatique ou caisson de vide
  • Chambre acoustique
  • Microscope à force atomique AFM

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