• Suggestion d’offres
  • 0 résultat. Vouliez-vous dire ?
  • Suggestion de catégories
  • 0 résultat. Vouliez-vous dire ?
  • Suggestion d'entreprises
  • 0 résultat. Vouliez-vous dire ?
  • Suggestion d’offres
  • 0 résultat. Vouliez-vous dire ?
  • Suggestion de catégories
  • 0 résultat. Vouliez-vous dire ?
  • Suggestion d'entreprises
  • 0 résultat. Vouliez-vous dire ?
Devenir exposant
Aide
Mon compte

Plus haute précision dans la mesure confocale de déplacement et d’épaisseur MICRO-EPSILON

Plus haute précision dans la mesure confocale de déplacement et d’épaisseur

Mesures d’épaisseur

Voter

“ + Rapport signal-bruit excellent + Contrôleur compatible avec les environnements industriels + Quasi indépendant de la surface, de même que pour le miroir et le verre ”
Contacter le fournisseur Recevoir de la documentation Demander un devis


La série confocalDT est synonyme de plus haute précision et dynamique dans la technique de mesure confocale chromatique. Le système de mesure dispose du contrôleur le plus rapide au monde connu à ce jour et permet des résultats de mesure hautement précis dans les mesures de déplacement et de distance ainsi que dans la mesure d’épaisseur des objets transparents. De nombreux capteurs et des interfaces différentes permettent une multitude de champs d’applications, p.ex. dans l’industrie semi-conducteur, l’industrie du verre, la technique médicale et la construction mécanique.  

Mesure de distance 
Le principe de mesure confocal à codage chromatique permet de mesurer avec très haute précision, les déplacements et les distances - tant sur les surfaces diffuses que réfléchissantes. Grâce au spot de mesure réduit, les objets les plus petits sont très faciles à détecter. La trajectoire axiale du rayon empêche les effets de projection d’ombre et permet de mesurer dans les douilles et les cavités. A l’aide de la version à angle de 90°, des mesures sont effectuées à l’intérieur des alésages et des cavités.
 
Mesure d'épaisseur 
Le principe de mesure confocal à codage chromatique permet de mesurer l’épaisseur des matériaux transparents tels que le verre. Un capteur unique détecte l'épaisseur au micromètre près. La base de données de matériaux déposée dans le contrôleur est personnellement éditable et extensible. Les paramètres spécifiques au matériau tels que p.ex. les indices de réfraction, sont adaptables par le biais de l'interface web conviviale. La mesure multi-peak qui évalue jusqu'à 6 peaks, permet de détecter également des objets multicouches tels que le verre feuilleté.

Résolution de l'ordre du nanomètre Spot de mesure miniature constant Mesure d'épaisseur unilatérale Système de mesure passif Construction robuste
Télécharger la fiche technique complète

L‘industrie semi-conducteur L‘industrie du verre, La technique médicale et la plasturgie

Déposez un avis sur Plus haute précision dans la mesure confocale de déplacement et d’épaisseur

Votre réponse à l'avis de -

AUTRES PRODUITS MESURES D’ÉPAISSEUR DE MICRO-EPSILON

Tous les produits mesures d’épaisseur de MICRO-EPSILON

LES INTERNAUTES ONT AUSSI CONSULTÉ SUR LA CATÉGORIE MESURES D’ÉPAISSEUR

Tous les produits de la catégorie mesures d’épaisseur

Consultez également

Contrôle d’alignement Mesures dimensionnelles Mètres rubans Mesures tridimensionnelles Micromètres Mesures de diamètres Niveaux laser Machine de mesure tridimensionnelle
Trouvez vos prestataires Faites votre demande, puis laissez nos équipes trouver pour vous les meilleures offres disponibles.
Trouvez vos futurs clients Référencez vos produits et services pour améliorer votre présence sur le web et obtenez des demandes qualifiées.