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Microscope électronique (FE-SEM) – ZEISS SIGMA ZEISS

Microscope électronique (FE-SEM) – ZEISS SIGMA

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“ Vos MEB à emission de champ pour une imagerie de haute qualité et une microscopie analytique avancée. ”
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  • Le ZEISS Sigma 300 offre l'excellence en termes de prix et de performances.  
  • Le ZEISS Sigma 500 : réalisez vos analyses élémentaires rapidement et facilement avec la meilleure géométrie EDS de sa catégorie. Comptez sur des résultats précis et reproductibles à partir de n'importe quel échantillon, à chaque session d’imagerie. 

Contrôler toutes les fonctionnalités de votre microscope avec un flux de travail en 4 étapes. Acquérir automatiquement des images sur plusieurs échantillons utilisant des régions d'intérêts (ROI). Obtenir une visualisation contextuelles de vos résultats. Réaliser des analyses complètes : combiner la microscopie électronique à balayage et analyse élementaire, compatible avec les échantillons les plus sensibles (plus rapidement avec moins de courant. Colonne Gemini. Caractériser tous ses échantillons avec la dernière technologie de détection. Obtenir des images nettes en mode à pression variable avec les détecteurs VPSE ou C2D. Produire une image en transmission en haute résolution avec le détecteur aSTEM. Etudier la composition des matériaux avec le HDBSD ou le détecteur YAG.
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Analyse des défaillances Assurance qualité des matériaux et des composants fabriqués Imagerie et Analyse des aciers et des métaux Inspection de dispositifs médicaux Caractérisation des semi-conducteurs et des dispositifs électroniques.

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