“ Tout en un Tous les composants sont intégrés dans un appareil compact. Le boîtier comprend un écran pour la projection des franges de lumière et jusqu‘à deux caméras. Il est possible d’occulter le champ de mesure sur les quatre côtés afin d‘éviter les influences de la lumière parasite. Les pieds sont réglables en hauteur permettant de compenser des hauteurs différentes des composants. La commande s‘effectue par écran tactile ou par souris et clavier et elle est connectée par USB. L‘interface Ethernet permet d‘intégrer le reflectCONTROL Compact dans les installations. Le déclenchement est possible par interface numérique I/O. Un boîtier de commande peut être connecté par VGA. Le logiciel d‘évaluation et de commande pré-installé dans la version 2D montre des défauts de surface. La version 3D fournit un nuage de points. Les données recueillies peuvent être traitées dans les programmes de traitement d‘image. ”
Le reflectCONTROL Compact de Micro-Epsilon a été conçu tout spécialement pour l'inspection des surfaces brillantes. Le système effectue une projection de franges de lumière sur l'objet de mesure. Les défauts de surface causent des déviations dans les franges de lumière qui sont alors enregistrées par une caméra et évaluées par un logiciel.
Le système entièrement intégré est disponible en deux versions avec différents champs de mesure. La version 2D est réservée à la pure reconnaissance des défauts sur les surfaces réfléchissantes. La version 3D permet en plus de mesurer des surfaces réfléchissantes avec une résolution à mieux que le micromètre. L'appareil peut être utilisé individuellement (p.ex. en laboratoire) ou bien intégré directement dans les lignes de production.Exemples d'applications
20/01/2021
Vérifier si je peut faire des relevés en 3D et si oui avec quelle capacité?
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