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Contrôleur confocal : Mesure de distance et d'épaisseur MICRO-EPSILON

Contrôleur confocal : Mesure de distance et d'épaisseur

Mesures d’épaisseur

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“ Nouveau : Contrôleur le plus rapide au monde avec source lumineuse intégrée Idéal pour l'automatisation et la surveillance en cours de production Quasi indépendant de la surface, de même que pour le miroir et le verre Contrôleur compatible avec les environnements industriels avec un excellent rapport signal-bruit ”
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Les contrôleurs confocalDT 2421 et 2422 sont devenus  le  nouveau  standard  de  l’industrie  quand  il  s’agit  de  la  technique  de  mesure  confocale haute précision. Grâce à leur présentation en tant que modèle  à  canal  unique  et  à  deux  canaux,  les  systèmes  de  mesure  permettent  une  solution  à  faible  coût  particulièrement  pour  les  applications  sérielles.  Le  réglage  du  temps  d’exposition  actif  de  la  barrette  CCD  permet  une  compensation rapide et précise de différentes surfaces.

Le  contrôleur  est  compatible  avec  tous  les  types  de  capteurs  de  la  série  IFS,  il  est  disponible  en  tant  que  version  standard  pour  les  mesures  de  distance  et  en  tant  que  version multi-peak destinée à la mesure d’épaisseur  des  couches  multiples.  Reposant  sur  une  fonction  de  calcul  spécifique,  le  modèle  
confocalDT   2422   à   double   canal   permet l’évaluation  des  deux  canaux.  La  détection  des valeurs de mesure qui se déroule de manière  synchronisée,  se  laisse  réaliser  en  utilisant  la  pleine  fréquence  de  mesure  pour  les deux canaux.

La configuration du contrôleur et des capteurs est intégralement exécutée sans logiciel supplémentaire,  par  le  biais  d’une  interface  web  conviviale.  La  sortie  des  données  se  fait  par  Ethernet,  EtherCAT,  RS422  et  sortie  analogique.

Fréquence de mesure jusqu‘à 6,5 kHz Interfaces: Ethernet / EtherCAT / RS422 / Analogique Compensation des surfaces rapide Configuration à l‘aide d‘un navigateur web Résolution sub-micrométrique Mesure d‘épaisseur de couches multiples Mesure d‘épaisseur bilatérale de manière synchrone Structure robuste avec refroidissement passif
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