Mentor Graphics augmente la qualité du test

Avec l'arrivée de TestKompress Xpress, les volumes de données de test sont compressés d'un facteur 100. Malgré l'augmentation de la complexité des circuits électroniques, la qualité de conception est ainsi maintenue et sera à l'avenir augmentée.


« Dans un monde où la taille des circuits double tous les 18 à 24 mois et où les nouvelles technologies de gravure induisent de nouveaux types de défauts, la qualité des tests doit être impérativement améliorée, si l'on veut maintenir le nombre de défauts par million au seuil actuel. Pour cela, il faut aller vers de nouvelles méthodologies et de nouveaux outils », prévient Greg Aldrich, responsable marketing de la division test de Mentor Graphics.

Un discours étayé par les chiffres de l'ITRS (International Technology Roadmap for Semiconductors) qui estime que le volume de données de test à traiter sera multiplié par 10 entre 2005 et 2013. D'ailleurs les industriels ont déjà commencé à modifier leurs pratiques depuis 5 ans. Ainsi la part du test embarqué dans les puces pour la détection de fautes, naissante en 2002, représenterait maintenant près de 70 % du marché.

C'est dans ce contexte que Mentor Graphics annonce l'intégration d'une nouvelle technologie dans son produit TestKompress de génération automatique de patterns de test (ATPG, Automatic Test Pattern Generation), afin de répondre à la demande croissante de l'industrie en matière de compression des volumes de données des tests. En fournissant des niveaux de compression supérieurs à 100 fois, la technologie Xpress de Mentor aidera les fabricants de circuits intégrés à atteindre leurs objectifs de qualité les plus stricts pour les technologies avancées, sans augmenter le coût des tests. Pour mémoire, TestKompress fut en 2001 le premier outil ATPG commercial à offrir une fonction embarquée de compression des tests.

Traquer les états inconnus

La nouvelle version de TestKompress augmente le niveau de compression réalisable en fournissant une méthode plus efficace de traitement des "états X" (X-states). Il s'agit d'états inconnus susceptibles d'apparaître au cours des tests de fabrication, d'entraîner une perte de couverture du test s'ils ne sont pas traités correctement et d'augmenter le volume de pattern nécessaire pour garantir le test exhaustif d'un circuit.

La technologie brevetée Xpress fournit un moyen nettement plus efficace de gérer les X en associant une circuiterie embarquée sophistiquée de sélection des données de test (quelques milliers de portes logiques par circuit) à un algorithme avancé de contrôle logiciel. Dans la mesure où cette technologie masque de façon efficace les effets des X, les patterns de test peuvent être moins nombreux et faire l'objet d'une compression supérieure, ce qui permet de réduire la durée des tests, d'augmenter le débit des tests de production, de diminuer les coûts de fabrication et de prolonger la durée de vie des équipements de test. Enfin, l'utilisation de la technologie Xpress n'exige pas de modification du design fonctionnel. Elle est totalement transparente pour l'utilisateur de TestKompress, ce qui n'implique aucune formation supplémentaire.

« Il s'agit d'un challenge important, car nos clients estiment que leurs designs contiennent inévitablement de 1à 2 % de X, ce qui se traduit, avec une technologie ATPG traditionnelle, par une perte de couverture de test de 10 à 25 %, avec tous les problèmes de qualité de conception qui en découlent », estime Greg Aldrich.

Garantir la qualité de conception

Et Mentor n'entend pas s'arrêter en si bon chemin. Ainsi, afin de faire face au besoin croissant de compression des données de tests, l'éditeur annonce qu'il travaille déjà sur de nouvelles versions de son outil TestKompress. « Il va nous falloir encore gagner un facteur 10 dans les 5 ans à venir. Afin de faire face à ce challenge, nous proposerons durant cette période de nouvelles technologies qui sont actuellement en cours de développement. Baptisées In-Systems, Low Power Overdrive et MultiCore, leurs premiers résultats sont encourageants. A terme, l'outil de test sera directement en prise avec les outils de conception. Lorsqu'il détectera des défauts, il sera à même de déceler à quelle phase du processus de conception ils sont dus. Il pourra alors aider le concepteur à les corriger et lui éviter de reproduire les mêmes erreurs. La qualité de conception sera alors garantie », conclu Greg Aldrich.

Jean-François Prevéraud

Pour en savoir plus : http://www.mentor.com/

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