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Höchstauflösende XY(Z) Piezotische für Nanotechnologie und Mikroskopie

Geräte für Messtechnik, Metrologie - PI FRANCE S.A.S
  • Scanner für AFM/SPM
  • Höchstauflösendes Manipulations-Tool für Nanotechnologie
  • Resonanzfrequenz 9,8 kHz
  • Kapazitive Sensoren für höchste Genauigkeit
  • Parallelmetrologie für automatische Führungsfehlerkompensation
  • 50 Pikometer Auflösung
  • 5 x 5 x 5 µm Stellweg
  • Vakuumausführungen

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    Scanner piézoélectrique subnanométrique pour microscopie AFM, SPM Ultra-High-Performance Scanner/Manipulator for Nanotechnology P-363 PicoCube® XY/XYZ

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