Système d’inspection à rayons X

Adapté aux investigations en électronique et en micro-électronique, ce système d’inspection à rayons X offre un angle de vue de 75° et un grossissement pouvant aller jusqu’à 6000 sur la totalité d’une zone de test de 410 mm x 410 mm. La résolution est inférieure à 1 µm.Le système Revolution est équipé d’un nouveau tube ouvert dépourvu de câble haute tension. Il offre une maintenabilité aisée grâce à son filament facile à remplacer. Revolution utilise une nouvelle plate-forme logicielle avec commandes par joystick et souris et une fenêtre de positionnement simplifiant la navigation.