Support de test « test sockets »

Les fabricants de semi-conducteurs sont aujourd'hui confrontés à des vitesses et à des densités de plus en plus élevées.
Le Support de test IDI se caractérise par sa faible hauteur, son auto-inductance réduite et une faible capacité entre conducteurs, qui en font l'idéal pour l'essai des circuits haute fréquence.
Nos supports de test sont conçus pour tester les circuits BGA, LGA, PGA ou CGA, à pas de 0,65 à 1,27 mm et plus.