Diffractomètre X

Ce diffractomètre X fournit des analyses structurales qualitatives et quantitatives et la détermination des contraintes résiduelles. Il effectue aussi l'analyse élémentaire des matériaux par fluorescence X. Il accepte des échantillons de 18 x 20 x 20 cm positionnés par laser.Doté d'une optique polycapillaire Kumakhov brevetée, le diffractomètre XMD 300 analyse des échantillons à surface irrégulière ou non plans. Il évite l'emploi de monochromateurs, collimateurs et fentes pour la projection des rayons X ainsi que l'emploi d'un tube à rayons X (un tube de 50 W refroidi par air suffit).